Институт химии твердого тела УрО РАН
Лаборатория квантовой химии и спектроскопии
Группа фотоэлектронной спектроскопии и сканирующей туннельной микроскопии
Включите JavaScript и проверьте установлен ли FlashPlayer
Сегодня:
Изображение из галереи
04.12.2015
Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и голография поверхностей слоистых кристаллов халькогенидов титана и висмута

Объявления о защите

Объявления на сайте ВАК
Объявление на сайте диссертационного совета

Тип диссертации

кандидатская

Соискатель

Огородников Илья Игоревич

Название темы диссертации

Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и голография поверхностей слоистых кристаллов халькогенидов титана и висмута

Шифр научной специальности

01.04.07 - Физика конденсированного состояния

Отрасль науки

физико-математические науки

Шифр диссертационного совета

Д 212.285.02

Дата защиты диссертации

04.12.2015

Название организации

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого президента России Б. Н. Ельцина"

Адрес организации

г.Екатеринбург, ул. Мира, 19

Автореферат

Скачать

Презентация

Скачать

Кандидатское удостоверение

07.09.2015 Санкт-Петербург. 07 – 11 сентября 2015 г.

10-й Всероссийский симпозиум «Термодинамика и материаловедение» является продолжением серии семинаров Сибирского и Уральского отделений РАН, проводимых поочередно в Новосибирске (ИНХ СО РАН) и Екатеринбурге (ИХТТ УрО РАН), начиная с 2000 года.

Прошедший симпозиум был посвящен обсуждению результатов и перспектив фундаментальных исследований в области химической термодинамики неорганических систем и физикохимии функциональных материалов. Большое внимание было уделено современным проблемам экспериментального и теоретического изучения термодинамических свойств неорганических соединений, развитию методов термодинамического моделирования сложных многокомпонентных многофазных систем, вопросам синтеза и исследования свойств новых конструкционных и функциональных материалов, в том числе наноструктурированных.

Тезисы докладов и сообщений, включенных в программу, были опубликованы в сборнике. Здесь можно ознакомиться с тезисами и постером нашего стендового доклада на тему Фотоэлектронная дифракция и голография как комплексный метод исследования структуры поверхности на примере Fe/Bi2Te3.

Фотографии, сделанные во время проведения конференции, вы можете найти здесь.

21.05.2015
Программа XPDProcessor

Написанная в среде разработки WaveMetrics™ Igor® программа XPDProcessor предназначена для автоматизации расчетов и исследований комплексным методом рентгеновской фотоэлектронной дифракции и голографии.

Основные особенности программы:
  • формирует все необходимые для проведения расчетов картин дифракции с помощью программы EDAC файлы: кластеры заданной структуры и командные файлы
  • позволяет проволить оценку достоверности структуры по экспериментальной и теоретическим дифракционным картинам с помощью R-факторного анализа
  • визуализирует кластеры и строит распределение пиков прямого рассеяния
  • визуализирует полученные с помощью программы SPEA-MEM трехмерные изображения структуры и их сечения
Для работы программы XPDProcessor требуются программы EDAC, SPEA-MEM и среда разработки WaveMetrics™ Igor®.

Скачать последнюю версию программы XPDProcessor можно здесь.

21.05.2015
Программа XPDPanel

Написанная в среде разработки WaveMetrics™ Igor® программа XPDPanel предназначена для визуализации, компьютерной обработки и экспорта в удобном для кодов EDAC и SPEA-MEM форматах записанных на тороидальном электронном спектрометре La Trobe и электронном спектрометре ESCALAB MK II картин дифракции фото- и Оже-электронов.

Для работы программы XPDPanel требуется пакет обработки данных тороидального анализатора и среда разработки WaveMetrics™ Igor®.

Скачать последнюю версию программы XPDPanel можно здесь.

02.02.2015
Atomic structure of Bi2Se3 and Bi2Te3 (111) surfaces probed by photoelectron diffraction and holography

Mikhail V. Kuznetsov, Lada V. Yashina, Jaime Sánchez-Barriga, Ilya I. Ogorodnikov, Andrey S. Vorokh, Andrey A. Volykhov, Roland J. Koch, Vera S. Neudachina, Marina E. Tamm, Anna P. Sirotina, Andrei Yu. Varykhalov, Gunther Springholz, Günther Bauer, John D. Riley, and Oliver Rader

Phys. Rev. B, V. 91, P. 085402. DOI

ABSTRACT. Understanding how topologically protected surface states behave at surfaces and interfaces requires knowledge of the atomic structure. Whether the (111) surfaces of the prototypical topological insulators Bi2Se3 and Bi2Te3 are Bi or chalcogen terminated is the subject of current controversies. We employ photoelectron diffraction and holography, combining the advantages and avoiding the disadvantages of the contesting techniques previously used. We find bulklike chalcogen termination with a very small surface relaxation (<1%) in agreement with density functional theory simulations. We prove the chalcogen termination for cleaved crystals and epitaxial films which shows the robustness of our conclusions.


Архив по годам: 2018; 2017; 2016; 2015; 2014; 2013; 2012;
Λ Наверх