М.В. Кузнецов, И.И. Огородников, А.С. Ворох

Успехи Химии, Т. 83, С. 13-37. DOI

АННОТАЦИЯ. Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур.