Институт химии твердого тела УрО РАН
Лаборатория квантовой химии и спектроскопии
Группа фотоэлектронной спектроскопии и сканирующей туннельной микроскопии
Включите JavaScript и проверьте установлен ли FlashPlayer
Сегодня:
Изображение из галереи
27.12.2014
20.01.2014
Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел

М.В. Кузнецов, И.И. Огородников, А.С. Ворох

Успехи Химии, Т. 83, С. 13-37. DOI

АННОТАЦИЯ. Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур.


Архив по годам: 2018; 2017; 2016; 2015; 2014; 2013; 2012;
Λ Наверх